рдЗрд╢реНреШ scatter рди рд╣реЛрддрд╛ рдЬреЛ рдореЗрд░реА рдмрд╛рдд рдорд╛рдиреА рд╣реЛрддреАред
рдореИрдВ рд╣реЛ рдЬрд╛рддрд╛ fail рдЗрд╢реНреШ рдореЗрдВ рди рдХреЛрдИ рд╣реИрд░рд╛рдиреА рд╣реЛрддреАред
рд╣реИ angle critical рд╕реЗ рдЬреНрдпрд╛рджрд╛ рдпрд╛рджреЗрдВ рджрд┐рд▓ рдореЗрдВ рд╣реА рд░рд╣ рдЬрд╛рддреА рд╣реИрдВ,,
рдХрд╛рд╢ рддреБрдо physics рд╣реЛрддреА,рддреБрдореНрд╣реЗ рднреВрд▓рдиреЗ рдореЗрдВ рдЖрд╕рд╛рдиреА рд╣реЛрддреАред
рдкреНрдпрд╛рд░ рддреБрдордореЗ induced рд╣реА рдирд╣реА рд╣реБрдЖ,apparent depth рд╣реА рджреЗрдЦрддреА рд░рд╣реАрдВ,
real рджреЗрдЦрддреА рддреЛ рддреБрдореНрд╣рд╛рд░реА рдЖрдБрдЦреЗ рднреА рдкрд╛рдиреА рдкрд╛рдиреА рд╣реЛрддреАред
рдореИрдВ L , рддреБрдо C, рдЕрдЦрд┐рд░ рдпреЗ circuit рдореЗрдВ R рдХрдм рдЖ рдЧрдпрд╛,
рдерд╛ рдореИрдВ рдорд╣реЫ test charge , рдХрд╛рд╢ рдореИрдиреЗ рдпреЗ рдмрд╛рдд рдЬрд╛рдиреА рд╣реЛрддреАред
ЁЯШНЁЯШНЁЯШНЁЯШЛ
-